• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Книга

31-th Semiconductor Thermal Measurement, Modeling and Management Symposium,

San Jose: IEEE, 2015.
Ответственный редактор: M. Rahima, V. Mulay.
Под общей редакцией: P. Rodgers.
Главы книги
31-th Semiconductor Thermal Measurement, Modeling and Management Symposium,