?
Методы контроля геометрических параметров и внутренних напряжений изделий аддитивных технологий
Фотоника. 2020. Т. 14. № 12020. С. 42–54.
Созданию измерительных систем для аддитивных процессов препятствует проблема отсутствия систем диагностики и контроля изготавливаемых изделий. Качество деталей, полученных методами аддитивных технологий, сильно варьируется из-за неадекватных допусков размеров, шероховатости поверхности, а также дефектов и наличия полей механических напряжений. Это приводит к тому, что малейшие отклонения внешних условий, возникающие в процессе изготовления, могут вызвать несоответствие конечного изделия по форме или свойствам. Измерительная система должна иметь потенциальную возможность быть встроенной в единый производственный комплекс. Это связано с тем, что результат измерений геометрических параметров конкретных изделий необходимо сравнить с математической моделью, разработанной в CAD-системе, а измерения дефектов, скрытых напряжений, структуры изделий должны быть переданы в CAE-систему для принятия решения о годности изделия или разработки алгоритма и технологии его дальнейшей обработки. Для контроля параметров изделий аддитивных технологий предложена система на базе методов структурированного света и шерографии.
Пономарев А. А., Александров Н. Л., Plasma Physics Reports 2026 Vol. 52 No. 3 P. 367–378
Добавлено: 27 апреля 2026 г.
Добавлено: 27 апреля 2026 г.
Tsareva O. O., Malova H. V., V. Yu. Popov и др., Plasma Physics Reports 2026 Vol. 52 No. 2 P. 179–185
Добавлено: 27 апреля 2026 г.
П.А.Беспалов, О.Н. Савина, Геомагнетизм и аэрономия 2025 Т. 65 № 5 С. 620–628
Рассмотрены несколько базовых моделей частотной динамики в квазипериодических ОНЧ-излучениях
с периодами повторения спектральных форм от 10 до 300 с. Во всех случаях речь
идет о проявлениях циклотронной неустойчивости электронных радиационных поясов, которые
хорошо описываются в рамках теории плазменного магнитосферного мазера, основанной на
усредненной самосогласованной системе квазилинейных уравнений для частиц и волн. Не очень
четкие спектральные элементы характерны для QP-всплесков, представляющих ...
Добавлено: 25 апреля 2026 г.
Bondarenko G.G., Fisher M. R., Kristya V. I., Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics 2026 Vol. 90 No. 4 P. 572–576
Добавлено: 25 апреля 2026 г.
Щур Л. Н., Antonov D., Burovski E., International Journal of Bifurcation and Chaos in Applied Sciences and Engineering 2026 P. 1–9
Добавлено: 20 апреля 2026 г.
Добавлено: 20 апреля 2026 г.
Добавлено: 20 апреля 2026 г.
Каликин Н. Н., Брандышев П. Е., Будков Ю. А., Journal of Chemical Physics 2026 Vol. 164 Article 154904
Добавлено: 18 апреля 2026 г.
Моисеев Э. И., Масютин Д. А., Мельниченко И. А. и др., Optics and Laser Technology 2025 Vol. 201 No. 115289 P. 1–5
Добавлено: 18 апреля 2026 г.
A. V. Pereskokov, Theoretical and Mathematical Physics 2026 Vol. 226 No. 3 P. 470–484
Добавлено: 12 апреля 2026 г.
Anna S. Bodrova, Physical Review E - Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics 2026 Vol. 113 No. 4 Article 045403
Добавлено: 5 апреля 2026 г.
В работе экспериментально и методами численного моделирования исследованы особенности деформационной динамики вязкоупругих капель растворов полиакрилонитрила (ПАН) в диметилсульфоксиде (ДМСО) при течении в силиконовом масле в канале с резким сужением. Основное внимание сосредоточено на изучении влияния концентрации ПАН и капиллярного числа на деформационное поведение и устойчивость таких капель. Показано, что увеличение концентрации ПАН приводит к существенному ...
Добавлено: 1 апреля 2026 г.
Калябин Д. В., Демидов В. В., Никитов С. А., Физика металлов и металловедение 2025 Т. 126 № 11 С. 1220–1225
Исследован спиновый транспорт в антиферромагнитных проводниках. Спиновый ток инжектировали из ферромагнитной пленки Co в антиферромагнитный проводник FeMn, после чего было исследовано постоянное напряжение, возникающее в слое Pt в условиях ферромагнитного резонанса при различных углах поворота ориентации постоянного магнитного поля в плоскости пленки. Был рассчитан вклад, вызванный чистым спиновым током (спиновой накачкой), зарегистрированный с помощью обратного ...
Добавлено: 27 марта 2026 г.
М.: РТУ МИРЭА, 2021.
УДК 004 (063)
ББК 94.3
Р 76
Российская научно-техническая конференция с международным участием. Инновационные технологии в электронике и приборостроении [Электронный ресурс]: Сборник докладов конференции «Инновационные технологии в электронике и приборостроении» Физико-технологического института РТУ МИРЭА. — М.: РТУ МИРЭА, 2021. — Т. 2. — 557 с.
Во 2-ом томе сборника опубликованы работы, представленные на Российской научно-технической конференции с международным участием ...
Добавлено: 5 августа 2022 г.
Vishnyakov G., Ivanov A., Levin G. и др., Quantum Electronics 2020 Vol. 50 No. 7 P. 636–642
Добавлено: 3 ноября 2021 г.
Вишняков Г. Н., Минаев В. Л., Иванов А. Д. и др., Оптика и спектроскопия 2020 Т. 128 № 10 С. 1577–1582
Предложен новый оптический элемент — квадролинза, которая использована в составе сдвигового спекл-интерферометра (шерографа) для обеспечения измерений напряженно-деформированных состояний объектов одновременно в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Квадролинза состоит из четырех одинаковых секторов, вырезанных из исходной круглой линзы и разнесенных друг от друга с образованием зазоров. Квадролинза строит четыре изображения объекта, смещенных относительно оптической оси на расстояние, ...
Добавлено: 2 ноября 2021 г.
Вишняков Г. Н., Иванов А. Д., Левин Г. Г. и др., Квантовая электроника 2020 Т. 50 № 7 С. 636–642
Проведено численное моделирование процесса измерения напряженно-деформированных состояний методом сдвиговой спекл-интерферометрии с использованием метода фазовых шагов. Разработана компьютерная модель с возможностью задания ее деформации и шероховатости, в которую входит модель диффузно отражающего тест-объекта, соответствующая по характеристикам реальной мембране, а также модель спекл-интерферометра, позволяющая получать спекл-интерферограммы при различных размерах спеклов и углов между интерферирующими пучками. Реализован процесс ...
Добавлено: 2 ноября 2021 г.
Представлены результаты измерений деформации изделий, изготовленных методами аддитивных
технологий. Показан процесс поиска и определения подповерхностных дефектов расслоения и несплошности бесконтактным оптическим методом, основанным на шерографии. Указанный метод
работает на принципах интерферометрии и голографии. С его помощью можно регистрировать малейшие перемещения поверхности с точностью порядка длины волны света. аДля настройки шерографа использовано градуировочное устройство, воспроизводящее деформацию поверхности. Результаты ...
Добавлено: 2 ноября 2021 г.
В работе описано устройство, предназначенное для метрологического обеспечения средств измерений деформаций и перемещений методом электронной спекл-интерферометрии. Предлагаемое устройство воспроизводит напряженно-деформированное состояние путем упругой деформации мембраны. В статье представлены результаты экспериментов по измерению напряженно-деформированного состояния с использованием метода шерографии. ...
Добавлено: 2 ноября 2021 г.
Гринин Л. Е., Grinin A., Коротаев А. В., , in: Industry 4.0. Entrepreneurship and Structural Change in the New Digital Landscape.: Springer, 2017. Ch. 12 P. 243–261.
Добавлено: 10 марта 2017 г.