?
Progressive steepening of the SNR RX J1713.7-3946 X-ray spectrum from XMM-Newton to INTEGRAL
Monthly Notices of the Royal Astronomical Society. 2019. Vol. 489. No. 2. P. 1828–1836.
Лутовинов А. А., Лыскова Н. С.
Potekhin A. Y., Zyuzin D. A., Yakovlev D. и др., Monthly Notices of the Royal Astronomical Society 2020 Vol. 496 No. 4 P. 5052–5071
Добавлено: 13 ноября 2020 г.
Rahman M., Hettiarachchi P., Cooray V. и др., Atmosphere 2019 Vol. 10 No. 4 P. 1–9
Добавлено: 20 февраля 2020 г.
Sheardown A., Fish T., Roediger E. и др., Astrophysical Journal 2019 Vol. 874 No. 2 Article 112
Добавлено: 3 апреля 2019 г.
Лыскова Н. С., Churazov E., Zhang C. и др., Monthly Notices of the Royal Astronomical Society 2019 Vol. 485 No. 2 P. 2922–2934
Добавлено: 2 апреля 2019 г.
Лутовинов А. А., Monthly Notices of the Royal Astronomical Society 2019 Vol. 484 No. 2 P. 1627–1636
Добавлено: 7 февраля 2019 г.
Пруцков Г. В., Пашаев Э. М., Субботин И. А. и др., В кн.: Первый российский кристаллографический конгресс. Сборник тезисов.: М.: НП-Принт, 2016. С. 134–134.
В работе показано использование комплементарного подхода к анализу серии разнородных экспериментов на примере рентгеновских методов исследований. ...
Добавлено: 14 февраля 2017 г.
Likhachev I. A., Subbotin I. A., Prutskov G. V. и др., , in: First AfLS Conference and Workshop 2015. Book of abstracts.: [б.и.], 2015. P. 23–23.
Добавлено: 17 июня 2016 г.
Пруцков Г. В., Рогачев А. В., Терентьев А. В., В кн.: Научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов НИУ ВШЭ им. Е.В. Арменского. Материалы конференции.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2016. С. 284–284.
В работе показаны результаты структурных исследований гетерокомпозиций Si/EuO/cap-layer, при помощи совместной обработки результатов рентгеновской дифракции и рефлектометрии. Получены профили распределения компонент поляризуемости для образцов по глубине. ...
Добавлено: 17 июня 2016 г.
Рогачев А. В., Пруцков Г. В., В кн.: Научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов НИУ ВШЭ им. Е.В. Арменского. Материалы конференции.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2015. С. 250–250.
В работе описаны особенности проведения исследования органических образцов, сформированных на поверхности жидкости, методами абсорбционной спектроскопии с применением синхротронного излучения. Представлены первые экспериментальные данные. ...
Добавлено: 22 июля 2015 г.
Пруцков Г. В., Лихачев И. А., В кн.: Сборник аннотаций национальной молодежной научной школы для молодых ученых, аспирантов и студентов по современным методам исследования наносистем и материалов "Синхротронные и нейтронные исследования" (СИН НАНО 2015), г. Москва, 6 - 10 июля 2015 г.: М.: НИЦ «Курчатовский институт», 2015. С. 105–106.
В работе описан подход комплексного обсчета данных рентгеновской дифракции и рефлектометрии для структур спинтроники. ...
Добавлено: 13 июля 2015 г.
М.: НИЦ «Курчатовский институт», 2015.
Сборник содержит аннотации докладов, преставленных участниками национальной молодежной научной школы для молодых ученых, аспирантов и студентов по современным методам исследований наносистем и материалов "Синхротронные и нейтронные исследования". Материалы представлены в авторской редакции. ...
Добавлено: 13 июля 2015 г.
Смирнов И. С., Новоселова Е. Г., Baranov A. M. и др., Diamond and Related Materials 1997 Vol. 6 P. 1784–1788
We demonstrate the possibility of determining a large group of physical properties of DLC films using only one group of methods based on X-ray interference studies. These include methods for determination of the film thickness, material density and roughness of the surface. We present the analysis of possibilities to use the method of the two-crystal X-ray ...
Добавлено: 26 марта 2013 г.