• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

Метод априорного анализа тепловых процессов электронных блоков космической аппаратуры

Разработан метод априорного анализа тепловой нагрузки электронных компонентов, вызванных тепловыми процессами, протекающими в печатных узлах электронных блоков космических аппаратов. Метод позволяет разработчику проводить исследования тепловых режимов на этапах эскизного и технического проектирования и получать значения тепловых нагрузок на электронных компонентах печатных узлов до изготовления опытного образца. В случае перегрузки конкретного электронного компонента (или компонентов) разработчик применяет один из вариантов охлаждения и проводит проверочное моделирование.

При исследовании тепловых режимов введены коэффициенты нагрузок, которые устанавливаются с учетом запасов на случайные разбросы параметров электронных компонентов и материалов несущих конструкций. Применение метода проиллюстрировано на примере обеспечения требуемого теплового режима электронного вычислительного блока, устанавливаемого на космическом аппарате.