• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

Electrical characterization and reliability of submicron SOI CMOS technology in the extended temperature range (to 300 °C)

Microelectronics and Reliability. 2017. Vol. 79. P. 416-425.
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Lebedev S. V., Sambursky L. M., Safonov S. O., Stakhin V. G.