?
Electrical characterization and reliability of submicron SOI CMOS technology in the extended temperature range (to 300 °C)
Microelectronics and Reliability. 2017. Vol. 79. P. 416-425.
Научное направление:
Электроника и электротехника
Приоритетные направления:
инженерные науки
Язык:
английский
Konstantin O. Petrosyants, Sergey V. Lebedev, Самбурский Л. М. и др., , in : Proceedings of the 22nd International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (Therminic 2016). : IEEE, 2016. P. 250-254.
Добавлено: 1 ноября 2016 г.
Добавлено: 30 января 2018 г.
Петросянц К. О., Попов Д. А., Быков Д. В., Journal of Physics: Conference Series 2019 Vol. 1163 P. 1-6
Добавлено: 22 октября 2018 г.
Петросянц К. О., Попов Д. А., Известия высших учебных заведений. Электроника 2018 Т. 23 № 5 С. 521-525
КНИ МОП-транзисторы имеют худшие условия для отвода тепла из рабочей об-ласти, что негативно сказывается на надежности и производительности микро-схем. С помощью TCAD-моделирования исследован эффект саморазогрева в структурах КНИ МОП-транзистора с различной конфигурацией скрытого оксида: традиционная структура на объемном кремнии, структура кремний на изоляторе, структура с «окном» в скрытом оксиде (SELBOX), КНИ-структура с неполным скрытым оксидом ...
Добавлено: 22 октября 2018 г.
Жаднов В. В., Технологии электромагнитной совместимости 2016 № 4 С. 49-52
Рассмотрена модель интенсивности отказов КМОП СБИС, предложенная в статье Пискуна Г.А., Алексеева В.Ф. «Совершенствование математической модели расчёта надёжности КМОП СБИС с учётом особенностей воздействия электростатического разряда», опубликованной в первом номере журнала «Технологии электромагнитной совместимости» за 2016 год. Показано, что утверждение авторов о том, что эта модель «…позволит более точно осуществлять оценку надёжности КМОП СБИС» в ...
Добавлено: 29 октября 2016 г.
Добавлено: 22 октября 2018 г.
Жаднов В. В., Мир измерений 2016 № 4 С. 8-11
В статье рассматриваются вопросы оценки надёжности электронных измерительных приборов при проектировании. Приводится описание моделей интенсивностей отказов КМОП ИС, учитывающих влияние ЭСР, и показано, что для электронных измерительных приборов, содержащих относительно небольшое количество таких микросхем, применение стандартизованной модели интенсивностей отказов, учитывающей влияние ЭСР, может привести к существенным погрешностям в расчётах надёжности. В качестве альтернативы предложена модель, ...
Добавлено: 13 октября 2016 г.
Аминев Д. А., Журков А. П., Кулыгин В. Н. и др., Проектирование и технология электронных средств 2016 № 3 С. 43-49
Приводится структура распределенной наземной локальной радиотехнической системы наблюдения (РСН), состоящей из местного диспетчерского пункта (МДП), 12-ти удаленно расположенных необслуживаемых радиотехнических терминалов (НРТ) и каналов связи между МДП и НРТ. Рассмотрены теоретические основы определения надёжности и оптимизации комплектования ЗИП. Исследована проблема определения показателей надёжности РСН. Составлена структурная схема надёжности и проведён расчет показателей по данным эксплуатационных ...
Добавлено: 15 апреля 2017 г.
Содержание монографии составили результаты многолетней работы Научной школы «Автоматизированная система обеспечения надёжности и качества аппаратуры АСОНИКА» Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики» (научный руководитель школы — академик РАЕН, д.т.н., проф. Ю.Н. Кофанов) и длительного сотрудничества с учёными Киевского Института проблем математических машин и систем Национальной академии наук Украины (зам. директора по науке д.т.н. В.П. Стрельников). ...
Добавлено: 23 марта 2014 г.
Учебно-методическое пособие предназначено для бакалавров и магистрантов, обучающихся по инженерно-техническим направлениям в рамках образовательных программ, в которых есть дисциплины косвенно или напрямую касающиеся вопросов надежности технических средств или систем.
Практикум выполняется студентами самостоятельно или под контролем преподавателя.
Учебно-методическое пособие в сжатом виде рассматривает важнейшие процедуры прогнозирования и обеспечения надежности технических средств, в том числе прогнозирования долговечности, на ...
Добавлено: 10 декабря 2015 г.
Рассмотрены и проанализированы SPICE-модели различной сложности для анализа влияния отдельных тяжелых (ядерных) частиц (ОЯЧ) на КМОП-схемы. Для варианта модели, учитывающей влияние электрического смещения в узле на параметры импульса тока, приведены выражения для оценки основных параметров такой модели в зависимости от параметров частицы и структуры транзисторов. Приведено сравнение параметров всплесков тока для используемой модели и из ...
Добавлено: 16 апреля 2021 г.
Артюхова М. А., Жаднов В. В., Полесский С. Н., Радіоелектроніка, інформатика, управління 2013 № 2 С. 48-53
В статье рассмотрены основные аспекты современного подхода к прогнозированию показателей безотказности электронных средств ответственного назначения.
Показано, что при расчетной оценке интенсивности отказов таких изделий следует учитывать не только технические и программные средства, но и факторы, характеризующие систему менеджмента надежности предприятия. ...
Добавлено: 6 марта 2014 г.
Артюхова М. А., Полесский С. Н., Линецкий Б. Л. и др., Reliability: Theory & Applications 2016 No. 4 P. 84-95
The paper considers the technique of modeling of electronic reliability based on modeling electrical components environment temperature. As experience of the simulation and exploitation of electronic shows, one of the main factors that significantly affect the reliability characteristics is the thermal effect. This is confirmed by the statistics of a number of companies. In the ...
Добавлено: 28 февраля 2017 г.
Петросянц К. О., Ширабайкин Д., Известия высших учебных заведений. Электроника 2009 № 3(77) С. 87-89
Рассмотрен метод расчета долговечности (времени до отказа) проводника СБИС в области межуровневого соединения. Рассчитаны долговечности для алюминиевых и медных проводников. Метод позволяет при заданных размерах межсоединений и параметрах проводящего материала определять электромиграционную долговечность элементов ИМС на стадии проектирования. ...
Добавлено: 21 февраля 2013 г.
Лушпа И. Л., Жаднов В. В., Надежность и качество сложных систем 2014 № 1 С. 50-57
В статье рассматривается вопросы оценки надежности виброизоляторов, применяемых для защиты электронных средств от вибрационных воздействий. Приведены расчеты интенсивностей отказов пружин по различным методикам. Показано, что применение методики, учитывающей влияния особенностей конструктивно-технологического исполнения, позволяет решать не только задачи расчета, но и обеспечения требуемого уровня характеристик надежности виброизоляторов. ...
Добавлено: 3 июня 2014 г.
Жаднов В. В., Артюхова М. А., Надежность 2015 № 1 С. 13-18
В статье рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфараспределения времени наработки до отказа для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 20 января 2015 г.
Артюхова М. А., Качество. Инновации. Образование 2014 № 2 С. 46-50
В статье рассматривается вопросы расчётной оценки вероятности безотказной работы радиоэлектронных систем космических аппаратов при воздействии низкоинтенсивного излучения космического пространства. Приводится описание характеристик ионизирующих излучений и методов расчёта накопленной дозы. Показаны основные этапы формирования модели интенсивности отказов интегральных микросхем при воздействии низкоинтенсивного излучения. ...
Добавлено: 16 апреля 2014 г.
Петросянц К. О., Попов Д. А., Russian Microelectronics 2019 Vol. 48 No. 7 P. 467-469
Добавлено: 24 марта 2020 г.
Zhadnov V.V., Tikhmenev A.N., Надежность 2013 No. 1 P. 44-54
Предприятия отечественной радиопромышленности, занимающиеся разработкой и производством электронных средств (ЭС) для космических аппаратов (КА), сталкиваются с проблемами обеспечения надежности, и, в первую очередь, безотказности. Об этом свидетельствуют как отказы при проведении приемо-сдаточных испытаний ЭС, так и аварии при эксплуатации КА. Одной из причин такой ситуации является применение устаревших и не точных методов оценки надежности ЭС ...
Добавлено: 20 апреля 2013 г.
K. Petrosyants, E. Orekhov, I. Kharitonov и др., Proceedings of SPIE (США) 2012 Vol. 8700 P. 16.1-16.6
In this paper we performed 2D and 3D device simulations to analyze the impact of technology scaling on the lattice heating in n-channel bulk silicon and silicon-on-insulator MOS transistors with gate lengths from 0.5 to 0.1 um. Maximum lattice temperatures and transistor thermal resistances for different gate lengths and bias voltages were calculated. The increase ...
Добавлено: 23 января 2014 г.
Полесский С. Н., Артюхова М. А., Reliability: Theory & Applications 2012 Vol. 7 No. 4 P. 90-101
В статье рассматривается метод расчета показателей безотказности и сохраняемости изделий класса химические источники тока при проектировании с учетом конкретных условий эксплуатации в составе электронного средства. В технических условиях на ХИТ приведены показатели надежности, но они даны для конкретных режимов работы и их применение при расчете дает большую погрешность. В американских (MIL – HDBK – 217F, ...
Добавлено: 7 февраля 2013 г.
Рассмотрены принципы работы и электрические характеристики биполярных и МОП-транзисторов интегральных схем, базовых элементов цифровой и аналоговой схемотехники, БМК и ПЛМ, микроконтроллеров и микропроцессоров. Описаны методики выполнения лабораторных, расчетных на ЭВМ, курсовых, самостоятельных и др. работ. Пособие предназначено для бакалавров и магистров различных специальностей, изучающих электронику, микроэлектронику и схемотехнику; отдельные разделы могут быть полезными для аспирантов ...
Добавлено: 28 февраля 2017 г.
Жаднов В. В., Кулыгин В. Н., Надежность и качество сложных систем 2015 № 3 С. 31-38
Рассмотрены вопросы создания автоматизированной системы расчета показателей долговечности электронных средств, основанной на работе со справочными данными. Сформулированы основные требования, разработана схема информационного обмена между системами автоматизированного проектирования и специализированными автоматизированными системами проектных исследований, определен состав программных модулей и разработан алгоритм функционирования программы, а также спроектирована модель базы данных по характеристикам долговечности элементов. ...
Добавлено: 6 марта 2016 г.
Королев П. С., Жаднов В. В., Известия высших учебных заведений. Приборостроение 2020 Т. 63 № 3 С. 264-277
Обеспечение целевого уровня показателей надежности при проектировании радиотехнических приборов (РП) непилотируемых автоматических космических аппаратов (АКА) является актуальной задачей в связи с неоднократными случаями возникновения отказов в течение срока активного существования. Одним из важных свойств надежности РП является их безотказность, которая характеризуется интенсивностью отказов. Для расчета этой характеристики на ранних этапах проектирования РП была разработана методика ...
Добавлено: 6 мая 2020 г.