?
Effect of the Ordering of Sulfur Vacancies on the Electronic Properties of Molibdenum Disulfide Monolayers
Russian Microelectronics. 2026. Vol. 55. P. 311–315.
Язык:
английский
Goncharov A., Чибисов А. Н., Advanced Theory and Simulations 2023 Vol. 12 No. 13 Article 2200816
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Prokhorenko A., Чибисов А. Н., Gnidenko A. и др., The Journal of Physical Chemistry Letters 2024 Vol. 15 No. 41 P. 10295–10300
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Чибисов А. Н., Chibisova M., Modern Electronic Materials 2025 Vol. 71 P. 99–103
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Tyagi V., Srivastava A., Mangal A. и др., Surfaces and Interfaces 2025 Vol. 73 Article 107591
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Vangapandu E., Agrawal S., Kumar S. и др., Materials Science in Semiconductor Processing 2026 Vol. 211 Article 110752
Добавлено: 10 октября 2026 г.
Степанянц В. Г., Andrey V. Fizulin, Chibirov A. и др., FUTURE TRANSPORTATION 2026 Vol. 6 No. 5 Article 225
Добавлено: 8 октября 2026 г.
В данной работе исследуются теоретические пределы обнаружения объектов в изотропных рассеивающих средах с использованием однофотонного лидара. В рамках упрощенной модели мы выводим фундаментальную зависимость между максимальной достижимой дальностью обнаружения и необходимым количеством фотонов в импульсе. Анализируются два различных предельных режима: режим баллистических фотонов, который сохраняет высокое пространственное разрешение, но требует экспоненциального увеличения мощности источника с ...
Добавлено: 8 октября 2026 г.
Добавлено: 8 октября 2026 г.
Добавлено: 8 октября 2026 г.
Merzlinkin V., Khmelev A. V., Севрюков Д. О. и др., St. Petersburg Polytechnical University Journal: Physics and Mathematics 2025 No. 3 P. 205–209
Добавлено: 5 октября 2026 г.
Исаев Т. Ф., Шаров А. Н., Журнал вычислительной математики и математической физики 2026 Т. 66 № 1 С. 83–93
Исследуются свойства оптических покрытий на основе использования упрощенного симулятора ошибок в толщинах слоев покрытий при их напылении. Обосновывается возможность такого подхода. Выводятся аналитические оценки среднеквадратичного значения нормы вектора ошибок и степени коррелированности ошибок в толщинах слоев покрытия. Изучается зависимость среднеквадратичного значения нормы вектора ошибок и свойств покрытия от уровня случайных ошибок в слоях. ...
Добавлено: 5 октября 2026 г.
Anandkumar M., Kesavan K. P., Sudarsan S. и др., Gels 2025 Vol. 11 No. 2 Article 117
Добавлено: 18 февраля 2025 г.
Sokolov M. R., Tumbinskiy K. A., Zvyagina A. I. и др., Colloids and Interface Science Communications 2022 Vol. 47 Article 100604
Добавлено: 21 января 2025 г.
Vitalii Yu. Kotov, Ivan S. Lunkov, Petr A. Buikin и др., New Journal of Chemistry 2023 Vol. 47 No. 5 P. 2666–2672
Добавлено: 13 января 2023 г.
S. P. Balabanova, Буйкин П. А., Ilyukhin A. B. и др., Russian Journal of Inorganic Chemistry 2022 Vol. 67 No. 7 P. 1018–1024
Добавлено: 6 июня 2022 г.
Kukharenko A. S., Шаймарданов Р. В., Елизаров А. А., Journal of Materials Science and Engineering A 2017 No. 7-8 P. 206–215
Developers of metamaterial-based devices in our dais face a serious problem—they can guess the properties of metamaterial itself only by analyzing the overall parameters of the complete device. As such constructions are periodical metal-dielectric structures, the standard methods of their permittivity and permeability measurement cannot be implemented. In this paper a methodology of metamaterial effective ...
Добавлено: 22 августа 2017 г.