?
The Research of Reliability Measures of Thin Film Resistors on an Extended Temperature Range of Operation
Научная статья посвящена исследованию влияния низких температур окружающей среды от –55 °С до +125 °С на показатели надежности тонкопленочных резисторов при их эксплуатации в составе радиоэлектронных средств. Проведен обзор и анализ справочников по надежности объектов исследования и научные работы известных авторов по предметной области, проанализированы математические модели оценки показателей безотказности объектов исследования и их физические особенности. По результатам теоретического и аналитического исследований получена уточненная математическая модель оценки эксплуатационной интенсивности отказов тонкопленочных резисторов, как основного показателя безотказности и коэффициента режима. Для подтверждения достоверности приведенных математических моделей предлагается провести валидацию, основанную на данных, которые могут быть получены в рамках проведения реальных ускоренных испытаний тонкопленочных резисторов на надежность. Для этого в статье предложена методика проведения ускоренных испытаний тонкопленочных резисторов в виде циклограммы и программно-аппаратная реализация комплекса для автоматизации проведения испытаний. Определены ускоряющие факторы, влияющие на деградационные процессы тонкопленочных резисторов, необходимые при проведении ускоренных испытаний для подтверждения их надежности. Ускоряющие факторы необходимо применять в ходе циклов методики совместно для сокращения длительности испытаний и повышения их достоверности.