?
Models of adsorption-induced deformation: ordered materials and beyond
Journal of Physics: Condensed Matter. 2022. Vol. 34. No. 6. Article 063002.
Singapore: Springer Singapore, 2026.
Добавлено: 12 октября 2026 г.
Goncharov A., Чибисов А. Н., Advanced Theory and Simulations 2023 Vol. 12 No. 13 Article 2200816
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Prokhorenko A., Чибисов А. Н., Gnidenko A. и др., The Journal of Physical Chemistry Letters 2024 Vol. 15 No. 41 P. 10295–10300
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Чибисов А. Н., Chibisova M., Modern Electronic Materials 2025 Vol. 71 P. 99–103
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Tyagi V., Srivastava A., Mangal A. и др., Surfaces and Interfaces 2025 Vol. 73 Article 107591
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Vangapandu E., Agrawal S., Kumar S. и др., Materials Science in Semiconductor Processing 2026 Vol. 211 Article 110752
Добавлено: 10 октября 2026 г.
В данной работе исследуются теоретические пределы обнаружения объектов в изотропных рассеивающих средах с использованием однофотонного лидара. В рамках упрощенной модели мы выводим фундаментальную зависимость между максимальной достижимой дальностью обнаружения и необходимым количеством фотонов в импульсе. Анализируются два различных предельных режима: режим баллистических фотонов, который сохраняет высокое пространственное разрешение, но требует экспоненциального увеличения мощности источника с ...
Добавлено: 8 октября 2026 г.
Добавлено: 8 октября 2026 г.
Добавлено: 8 октября 2026 г.
Исаев Т. Ф., Шаров А. Н., Журнал вычислительной математики и математической физики 2026 Т. 66 № 1 С. 83–93
Исследуются свойства оптических покрытий на основе использования упрощенного симулятора ошибок в толщинах слоев покрытий при их напылении. Обосновывается возможность такого подхода. Выводятся аналитические оценки среднеквадратичного значения нормы вектора ошибок и степени коррелированности ошибок в толщинах слоев покрытия. Изучается зависимость среднеквадратичного значения нормы вектора ошибок и свойств покрытия от уровня случайных ошибок в слоях. ...
Добавлено: 5 октября 2026 г.
Осипова А. М., Пилипенко С. В., Novikov D. I. и др., Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology 2026 Vol. 114 Article 063522
Добавлено: 5 октября 2026 г.
Gribova N. I., Osmanov S. V., Lyashko S. D. и др., Journal of Magnetism and Magnetic Materials 2025 No. 614 P. 1–8
Добавлено: 4 октября 2026 г.
Seleznev G., Fominov Yakov V., Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics 2026 Vol. 114 No. 7 Article 074505
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Добавлено: 2 октября 2026 г.
B.V. Andryushechkin, Denisenkov V. S., Komarov N. S. и др., Surface Science 2025 Vol. 760 Article 122769
Добавлено: 17 февраля 2026 г.
Добавлено: 9 февраля 2026 г.
Kobernik T. N., A. I. Kartsev, The Journal of Physical Chemistry Letters 2024 Vol. 15 No. 49 P. 12151–12155
Добавлено: 27 февраля 2025 г.
Liu W., Yang Y., Guo L. и др., Chemical Engineering Journal 2024 Vol. 498 Article 155569
На протяжении всей истории человечества прогресс человеческого общества неизменно сопровождался более эффективным использованием энергии. В настоящее время около 15 % всей энергии, потребляемой человеком, расходуется на разделение и очистку веществ. Поэтому срочно требуются новые методы разделения. В области разделения газов новые технологии мембранного разделения и адсорбционного разделения твердых веществ обеспечивают большую энергоэффективность и экологические преимущества. ...
Добавлено: 24 января 2025 г.
Вербицкий М. С., Ornea L., Tohoku Mathematical Journal 2024 Vol. 76 No. 1 P. 105 – 125
Добавлено: 2 декабря 2024 г.
Аксенов О. И., Фукс А. А., Волков Н. А. и др., Instruments and Experimental Techniques 2023 Vol. 66 No. 3 P. 121–124
В рамках данной работы разработан новый метод усталостных испытаний на растяжение тонких микропроводов и проволок, соответствующий ГОСТ 25.502-79. Разработанный метод проверен на аморфных микропроводах состава Fe77.5Si7.5B15 в стеклянной изоляции. Установлено, что режим деформирования в интервале напряжений от 0 до 700 МПа соответствует долговечному использованию исследованных микропроводов (миллионы циклов). Кроме того, изученные микропровода способны выдержать сотни ...
Добавлено: 6 июня 2023 г.