?
Model of the Yield Loss Factors Based on Survey Analysis for the Integrated Circuits Manufacturing
P. 1–8.
Стукач О. В., Автоматика и программная инженерия 2022 № 2 С. 138–142
Рассмотрены результаты проведённого в г. Москве на базе АО "ЭНПО СПЭЛС" III Московского семинара по электронным и сетевым технологиям (Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT-2022). Семинар регулярно организуется Московским институтом электроники и математики им. А.Н. Тихонова Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики» и Томской группой Института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике Института IEEE ...
Добавлено: 27 ноября 2022 г.
Моделирование реализаций наработок до отказа электронных компонентов с учетом их модели эксплуатации
Жаднов В. В., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы двадцать второго научно-технического семинара.: М.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2019. С. 73–77.
В работе рассматривается математическая модель, позволяющая получить реализацию наработки до отказа электронного компонента для заданной модели его эксплуатации. Модель получена в рамках тех ограничений и допущений, которые приняты в нормативных документах по надежности электронных компонентов. ...
Добавлено: 20 апреля 2019 г.
Tomsk: Tomsk State University of Control Systems and Radioelectronics (TUSUR), 2019.
Добавлено: 5 марта 2019 г.
Жаднов В. В., Известия высших учебных заведений. Электроника 2018 Т. 23 № 4 С. 353–361
Применяемые в инженерной практике типовые процедуры расчетной оценки характеристик надежности электронных компонентов (аналитические методы) имеют ряд существенных ограничений. Переход к численным методам, позволяющим снять эти ограничения, вызывает необходимость создания модели отказов электронных компонентов для расчета показателей надежности электронных средств методом имитационного моделирования. В работе исследована типовая процедура расчетной оценки характеристик надежности электронных компонентов с помощью ...
Добавлено: 1 сентября 2018 г.
IEEE, 2017.
Добавлено: 16 июля 2018 г.
Жаднов В. В., В кн.: Труды Международного симпозиума НАДЕЖНОСТЬ И КАЧЕСТВОТ. 1.: Пенза: ПГУ, 2018. С. 35–37.
Рассмотрены вопросы формирования наработки до отказа электронных компонентов по справочным данным при статистическоммоделировании. Предложена модель отказа электронного компонента, которая позволяет получить реализацию наработки электронного компонента с учетом ресурсных отказов и ограничений на величину его наработки. Разработанная модель создана в рамках допущений и ограничений, принятых в действующих нормативных документах. Показана возможность сокращения вычислительных затрат при применении ...
Добавлено: 24 мая 2018 г.
Жаднов В. В., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы двадцать первого научно-практического семинара.: М.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2018. С. 245–248.
В докладе рассматриваются вопросы создания модели отказов электронных компонентов для имитационного моделирования отказов электронного оборудования. Модель предназначена для расчета реализаций наработок электронных компонентов при имитационном моделировании. В отличие от стандартизованных моделей отказов электронных компонентов предлагаемая модель позволяет одновременно учитывать их характеристики безотказности, долговечности и сохраняемости. ...
Добавлено: 20 апреля 2018 г.
Кофанов Ю. Н., Шалумов А. С., Шалумов М. А., Автоматизация. Cовременные технологии 2017 Т. 71 № 3 С. 106–112
Рассмотрены проблемы, задачи анализа и моделирования надежности электронных компонентов и радиоэлектроных средств с учетом тепловых, механических, электромагнитных и других воздействий, а также проведен анализ программного обеспечения ...
Добавлено: 13 октября 2017 г.
M.: HSE, 2016.
The 12th Siberian conference SIBCON-2016, the oldest conference of IEEE in Siberia, aims to offer opportunities to learn and to share information on the latest advances in communications, electron devices, and control systems. ...
Добавлено: 8 апреля 2016 г.
Omsk: Omsk State Technical University, 2015.
The 11th Siberian conference SIBCON-2015, the oldest conference of IEEE in Siberia, aims to offer opportunities to learn and to share information on the latest advances in communications, electron devices, and control systems. It will be held in Omsk, the Russian Federation, on May 23?25, 2015. The conference is organized by the IEEE on a ...
Добавлено: 17 апреля 2015 г.
Аминев Д. А., Манохин А. И., Семененко А. Н. и др., Прикаспийский журнал: управление и высокие технологии 2015 № 1(29) С. 108–117
Обоснована необходимость применения контактных методов контроля элементов электронных средств при проведении теплового диагностирования в закрытом конструктивном объеме. Описан метод расчёта погрешности, вносимой датчиком, при измерении температуры элемента. Представлены и исследованы топологические тепловые модели электронного компонента, установленного на печатную плату, и пары «электронный компонент-термодатчик», построенные на основе электротепловой аналогии, в подсистеме теплового моделирования АСОНИКА-Т. Эти модели ...
Добавлено: 10 декабря 2014 г.
Шалумов А. С., Shalumov M. A., Tikhomirov M. и др., European journal of natural history 2013 No. 3 P. 46–48
Подсистема АСОНИКА-T может работать в автономном режиме или в составе АСОНИКА в сочетании с другими подсистемами. Подсистема АСОНИКА-Т предназначена для автоматизации моделирования тепловых процессов, таких как микросборок, радиаторов, теплоотводящих труб, гибридных интегрированных модулей, источников питания, шкафов, стоек и типовых (произвольных) структур электроники. ...
Добавлено: 19 ноября 2013 г.