?
Debugging test set generation for digital control system functions
P. 1–5.
В книге
M.: IEEE, 2018.
- A
- A
- A
- АБВ
- АБВ
- АБВ
- A
- A
- A
- A
- A
Обычная версия сайта
- Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»
- Публикации ВШЭ
- Глава
- Debugging test set generation for digital control system functions
Тематика
11 сентября 2026 г.
С 24 по 28 августа 2026 года в городе Санья на острове Хайнань (Китай) прошла международная конференция Statistical AI («Статистический искусственный интеллект»). Мероприятие собрало ведущих специалистов в области статистики, машинного обучения и прикладного ИИ. Среди организаторов конференции — Алексей Наумов, директор Института искусственного интеллекта и цифровых наук ФКН НИУ ВШЭ, и Сергей Самсонов, заведующий Международной лабораторией стохастических алгоритмов и анализа многомерных данных.
10 сентября 2026 г.
Исследователь из НИУ ВШЭ проанализировал данные 1539 аспирантов из 161 российского университета и выяснил, какие особенности диссертационной темы связаны с успешностью и вовлеченностью в обучение. Самым важным фактором оказался личный интерес к исследованию: он был связан практически со всеми ключевыми сторонами аспирантской жизни — от взаимодействия с научным руководителем до исследовательской активности и уверенности в будущей защите. Результаты опубликованы в журнале Higher Education.
11 сентября 2026 г.
Интересы России и Африки совпадают: в НИУ ВШЭ стартовала конференция по вопросам развития континента
В Центре культур НИУ ВШЭ на Покровском бульваре 10 сентября начала работу двухдневная научно-практическая конференция, посвященная развитию Африки и сотрудничеству стран континента с Россией. Эксперты обсуждают вопросы образования, инвестиций, цифровизации. Одним из ключевых событий конференции стала презентация доклада «Африка 2027. Возможности и риски».