Надежность и качество: Труды международного симпозиума.. Т. 2.

АБВ
АБВ
АБВ

Обычная версия сайта

Приоритетные направления

по году

Тематика

Новости

14 июля 2026 г.

«Я мечтаю о простых вещах»

Анастасия Гергенретер занимается прикладной статистикой и эконометрикой. В интервью проекту «Молодые ученые Вышки» она рассказала о том, зачем изучает потребление аддиктивных веществ, о двух очень разных Фишерах и о цветении сакуры в Главном ботаническом саду.

14 июля 2026 г.

Ученые НИУ ВШЭ доказали, что машинное обучение может тратить меньше ресурсов

Международная группа исследователей, в которой участвовали математики из Института искусственного интеллекта и цифровых наук ФКН НИУ ВШЭ, теоретически обосновала простой и вычислительно легкий метод оценки неопределенности для стохастического градиентного спуска (SGD). Работа опубликована на сервере научных препринтов arXiv.org и была представлена на AISTATS 2026.

13 июля 2026 г.

Ученые НИУ ВШЭ впервые дали юридическое определение цифровой экосистеме

Цифровые экосистемы за последние годы превратились из технологической инновации в фундаментальный институт современной экономики. По последней оценке НИУ ВШЭ, их вклад в российскую экономику составляет 8,5% ВВП. Однако ни одна юрисдикция не имеет легального определения того, что такое цифровая экосистема. Ученые НИУ ВШЭ закрыли этот пробел, впервые предложив соответствующую правовую концепцию. Статья «Цифровая экосистема как новое экономическое явление и правовая концепция» опубликована в BRICS Law Journal.

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации

?

Надежность и качество: Труды международного симпозиума.

Т. 2. Пенза : ПГУ, 2015.

Установка экспонирования фоторезиста на основе УФ светодиодной матрицы .

Володин П. Н., Бекниязов Н. А., Танатов М. К., В кн.: Надежность и качество: Труды международного симпозиума.Т. 2.: Пенза: ПГУ, 2015. С. 104–106.

. ...

Добавлено: 26 января 2018 г.

Язык: русский

Ключевые слова: надежность и качество в электронике

Надежность и качество: Труды международного симпозиума.

Электроэнергетика, электротехника и информационные технологии : материалы Всероссийской научно-технической конференции (30—31 мая 2024 г., Петрозаводск)

Издательство ПетрГУ, 2024.

В сборник включены доклады, представленные на Всероссийской научно-технической конференции «Электроэнергетика, электротехника и информационные технологии». Доклады охватывают широкий круг вопросов в области информационно-коммуникационных технологий и программно-технических комплексов, автоматизации технологических процессов и производств на базе современных технологий и оборудования, САПР, электромагнитной совместимости, релейной защиты и автоматики, передачи, распределения и потребления электроэнергии, электрического и электронного оборудования, математического моделирования в электроэнергетике, нейросетевых ...

Добавлено: 9 декабря 2024 г.

European Microwave Conference

Стукач О. В., Mirmanov A., IEEE, 2018.

Добавлено: 24 сентября 2019 г.

Математические модели и надежность радиоэлектроных средств при тепловых воздействиях

Манохин А. И., В кн.: Системные проблемы надежности, качества, математического моделирования и инфотелекоммуникационных технологий в инновационных проектах. Коллективная монография.: М.: НИУ ВШЭ, 2014. Гл. 4.6 С. 144–154.

Математические модели и надежность радиоэлектроных средств при тепловых воздействиях ***Надежность создаваемой радиоэлектронной аппаратуры (РЭА), которая определяет ее конкурентоспособность на внешнем и внутреннем рынке, в значительной мере зависит от эффективности и качества проектирования. Постоянное усложнение РЭА, рост предъявляемых к ней требований и сокращение сроков проектирования обуславливает необходимость широкого использования методов комплексного математического моделирования физических процессов, протекающих ...

Добавлено: 28 октября 2014 г.

Современные программно-инструментальные методы тепловизионной термографии для обеспечения надежности и качества в электронике

Увайсов С. У., Сегень А. В., В кн.: Материалы четвертой всероссийской научно-технической конференции «Состояние и проблемы технических измерений».: М.: [б.и.], 1997. С. 222–224.

Добавлено: 8 февраля 2014 г.