?
Термостабилизация элементов в устройствах сканирующей зондовой микроскопии
С. 237–239.
Ефимов И. А., Ivashov E., Корпачев М. Ю., Костомаров П. С., Лучников П. А.
In book
Ч. 1. , М.: Энергоатомиздат, 2009.
Andrei M. Ionov, Chekmazov S., Usov V. et al., Ultramicroscopy 2020 Vol. 218 No. 11 P. 113083
Fracturing microscale constrictions in metallic wires, such as tungsten, platinum, or platinum-iridium, is a
common fabrication method used to produce atomically sharp tips for scanning tunneling microscopy (STM),
field-emission microscopy and field ion microscopy. Typically, a commercial polycrystalline drawn wire is locally
thinned and then fractured by means of a dislocation slip inside the constriction. We examine a ...
Added: December 24, 2020
Казанцев Д. В., Казанцева Е. А., Кузнецов Е. В. et al., Известия РАН. Серия физическая 2017 Т. 81 № 12 С. 1709–1714
Описаны принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM). Зондом в приборе служит металлизированная игла атомно-силового микроскопа, и оптическое взаимодействие с объектами на поверхности локализовано вблизи ее острия размером в несколько нанометров. Тело иглы имеет длину в несколько микрон, и это обеспечивает высокую эффективность ее электромагнитного взаимодействия с падающими на нее извне и излучаемыми ...
Added: December 6, 2020
Ivashov E., Федотов К. Д., Дальская Г. Ю., В кн.: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: Материалы международной научно-технической конференции INTERMATIC-2015Ч. 3: Материалы и технологии.: М.: Редакционно-издательский отдел МИРЭА, 2015. С. 202–205.
Относительно низкая производительность систем туннельной микроскопии с одним зондом не имеет особого значения при выполнении сканирования поверхности в научных целях, но ведет к необходимости создать устройство, способное выполнять технологические операции в нескольких областях подложки одновременно с заданной степенью точности. ...
Added: December 6, 2015
Ivashov E., Князева М. П., Федотов К. Д. et al., Вестник машиностроения, СТИН 2015 № 8 С. 55–58
The technical solution of a piezodrive for nanotechnology is presented. The problems of optimization by methods of penalty function and Fletcher—Reeves are considered. Both methods are described by equations and are presented in matrix form for convenience. ...
Added: September 23, 2015
Громов И. Ю., Kozhevnikov A., Системный администратор 2014 № 7-8 С. 139–143
The article discusses the thermal model of Peltier element and a heat pipe intended for inclusion in the overall thermal model design of electronic equipment to optimize system parameters to ensure its thermal regime. Models are constructed on the basis of experimental data of the manufacturer and contain the minimum number of adjustable parameters. ...
Added: March 6, 2015
Ivashov E., Федотов К. Д., Yagovtsev V., В кн.: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения / Материалы Международной научно-технической конференции «INTERMATIC–2014», 1–5 декабря 2014 г., МоскваЧ. 4.: М.: МГТУ МИРЭА, 2014. С. 120–123.
Применение пьезоприводов в нанотехнологии позволяет достигать высоких ре-зультатов в плане точности позиционирования зонда, что в свою очередь позволяет достичь высокого качества снимков поверхности подложки или модификации поверх-ности подложки для достижения определенных функциональных результатов. С целью оптимизации конструкции ...
Added: December 8, 2014
Ivashov E., Федотов К. Д., Yagovtsev V., В кн.: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения / Материалы Международной научно-технической конференции «INTERMATIC–2014», 1–5 декабря 2014 г., МоскваЧ. 4.: М.: МГТУ МИРЭА, 2014. С. 116–119.
Оптимизация технического решения пьезоэлектрического сканера состоит в ми-нимизации функции f(x) = f(x1, x2, …, xn), где x определяется явными ограничениями lj≤xj≤uj при j=1, 2, …, n, а также неявными ограничениями gi(x)≤biприi=1, 2, …, m. ...
Added: December 8, 2014
Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2014.
Сборник трудов, представленных на XVIII международном симпозиуме "Нанофизика и наноэлектроника" и посвященных актуальным проблемам физики конденсированного состояния, рентгеновской оптики и методам диагностики наноструктур. ...
Added: March 15, 2014
Lozovik Y., Nechepurenko I., Dorofeenko A. et al., Physics Letters A 2014 Vol. 378 No. 9 P. 723–727
We propose a method for high-sensitivity subwavelength spectromicroscopy based on the usage of a spaser (plasmonic nanolaser) in the form of a scanning probe microscope tip. The high spatial resolution is defined by plasmon localization at the tip, as is the case for apertureless scanning near-field optical microscopy. In contrast to the latter method, we ...
Added: January 13, 2014
Ivashov E., Князева М. П., В кн.: INTERMATIC - 2013. Материалы Международной научно-технической конференции "Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения", 2–6 декабря 2013 г., МоскваЧ. 3.: МГТУ МИРЭА – ИРЭ РАН, 2013. С. 198–204.
Рассмотрено устройство возбуждения кантилевера. Описаны колебания биморфного кантиливера. Показано устройство формирования квантовых точек из газовой среды. ...
Added: December 21, 2013
Ivashov E., Федотов К. Д., Международный журнал экспериментального образования 2013 Т. 2 № 10 С. 346–348
Description of batch piezo actuators, formulas for calculation of absolute and relative deformations in first and second approximation are brought. Example of modification of machine methods for more accurate calculation of anisotropic solids and more specifically of piezo ceramics is shown. Triaxial piezo actuator solution is suggested and it’s work scheme is described. Disadvantages of batch piezo actuators and methods of their removal are shown ...
Added: December 18, 2013
Vasin V. A., Ivashov E., Stepanchikov S. V., Надежность 2013 № 1 С. 92–103
Рассмотрены вопросы надёжности систем многофункциональных пьезомодулей, которая зависит от системы автоматического управления пьезосканерами в целом (и отдельными пьезомодулями), а также от надёжности работы самих пьезомодулей, в которых реализуется преобрахование электрической энергии в механичсекую. ...
Added: August 13, 2013
Lvov B. G., Bondarenko G., Nikolaevskiy A., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2010.
Учебно-методическое пособие направлено на практическое изучение основных приемов эксплуатации, настройки и работы на сканирующем зондовом микроскопе СММ-2000 и проведение инженерного тренинга учащихся. ...
Added: May 13, 2013
Lvov B. G., Bondarenko G., Nikolaevskiy A., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2010.
Содержанием учебно-методического пособия является изучение и практическое освоение основных зондовых методов исследования поверхности электропроводных и диэлектрических наноматериалов, изучение принципов работы сканирующего зондового микроскопа с элементами инженерного тренинга. ...
Added: May 13, 2013
Ivashov E., Перевозников А. Ю., Демидов Д. В. et al., В кн.: INTERMATIC - 2011. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 14-17 ноября 2011 г., МоскваЧ. 4.: М.: МГТУ МИРЭА – ИРЭ РАН, 2011. С. 170–172.
В работе рассмотрены принципы построения устройств перемещения для сканирующей зондовой микроскопии, предложено устройство перемещения для нанотехнологии, позволяющее обеспечить взаимную независимость перемещений зонда по координатным осям. ...
Added: February 8, 2013
Ефимов И. А., Ivashov E., Корпачев М. Ю. et al., В кн.: INTERMATIC - 2009. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 7 - 11 декабря 2009 г., МоскваЧ. 1.: М.: Энергоатомиздат, 2009. С. 235–236.
В статье рассмотрен ряд ограничений использования СЗМ для исследования поверхностной структуры материалов. Предложено техническое решение позволяющее значительно расширить область применения сканирующих зондовых микроскопов. ...
Added: February 8, 2013
Kartsev E., Yurin A., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
Приведены основные понятия и определения нанометрологии, сведения об истории развития исследований в нанометровом диапазоне. Рассмотрена классификация нанообъектов, их свойства и параметры. Изложены принципы элементного и структурного анализа нанообъектов и вопросы метрологического обеспечения нанотехнологий. Особое внимание уделено методам и средствам исследования поверхностей и нанопокрытий. Достаточно подробно рассмотрены конструкция и метрологические характеристики сканирующих туннельных, электронных и атомно-силовых ...
Added: September 28, 2012
Vinogradov A., Духовенский Г. Е., В кн.: Концентрированные потоки энергии в космической технике, электронике, экологии и медицине. Труды XII межвузовской научной школы молодых специалистов.: М.: Издательство МГУ, 2011. С. 82–87.
В статье приведен обзор существующих малогабаритных насосов с пьезоэлектрическим приводом и дан теоретический анализ двух перспективных моделей для медицинской и космической техники. Сделана оценка производительности устройств и примеры их моделирования в специально разработанной программе для ЭВМ. ...
Added: April 20, 2012
Vinogradov A., Духовенский Г. Е., В кн.: Функциональные наноматериалы для космической техники. Труды 2-й Всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых.: М.: МИЭМ, 2011. С. 244–252.
Рассмотрены модели микромеханических пьезонасосов двух типов: мембранного и перистальтического. Приведены результаты анализа двумерных моделей аналитическим методом. Найдены собственные частоты и формы колебаний. Дана оценка производительности насосов в зависимости от частоты возбуждения. Предложена схема создания бегущей волны деформаций в модели перистальтического насоса. ...
Added: April 18, 2012