?
Структура зонда в СЗМ для исследования поверхности диэлектрических подложек
С. 235–236.
Ефимов И. А., Ivashov E., Корпачев М. Ю., Костомаров П. С., Лучников П. А.
In book
Ч. 1. , М.: Энергоатомиздат, 2009.
Казанцев Д. В., Казанцева Е. А., Кузнецов Е. В. et al., Известия РАН. Серия физическая 2017 Т. 81 № 12 С. 1709–1714
Описаны принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM). Зондом в приборе служит металлизированная игла атомно-силового микроскопа, и оптическое взаимодействие с объектами на поверхности локализовано вблизи ее острия размером в несколько нанометров. Тело иглы имеет длину в несколько микрон, и это обеспечивает высокую эффективность ее электромагнитного взаимодействия с падающими на нее извне и излучаемыми ...
Added: December 6, 2020
Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2014.
Сборник трудов, представленных на XVIII международном симпозиуме "Нанофизика и наноэлектроника" и посвященных актуальным проблемам физики конденсированного состояния, рентгеновской оптики и методам диагностики наноструктур. ...
Added: March 15, 2014
Lozovik Y., Nechepurenko I., Dorofeenko A. et al., Physics Letters A 2014 Vol. 378 No. 9 P. 723–727
We propose a method for high-sensitivity subwavelength spectromicroscopy based on the usage of a spaser (plasmonic nanolaser) in the form of a scanning probe microscope tip. The high spatial resolution is defined by plasmon localization at the tip, as is the case for apertureless scanning near-field optical microscopy. In contrast to the latter method, we ...
Added: January 13, 2014
Ivashov E., Федотов К. Д., Международный журнал экспериментального образования 2013 Т. 2 № 10 С. 346–348
Description of batch piezo actuators, formulas for calculation of absolute and relative deformations in first and second approximation are brought. Example of modification of machine methods for more accurate calculation of anisotropic solids and more specifically of piezo ceramics is shown. Triaxial piezo actuator solution is suggested and it’s work scheme is described. Disadvantages of batch piezo actuators and methods of their removal are shown ...
Added: December 18, 2013
Vasin V. A., Ivashov E., Stepanchikov S. V., Надежность 2013 № 1 С. 92–103
Рассмотрены вопросы надёжности систем многофункциональных пьезомодулей, которая зависит от системы автоматического управления пьезосканерами в целом (и отдельными пьезомодулями), а также от надёжности работы самих пьезомодулей, в которых реализуется преобрахование электрической энергии в механичсекую. ...
Added: August 13, 2013
Lvov B. G., Bondarenko G., Nikolaevskiy A., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2010.
Содержанием учебно-методического пособия является изучение и практическое освоение основных зондовых методов исследования поверхности электропроводных и диэлектрических наноматериалов, изучение принципов работы сканирующего зондового микроскопа с элементами инженерного тренинга. ...
Added: May 13, 2013
Ivashov E., Перевозников А. Ю., Демидов Д. В. et al., В кн.: INTERMATIC - 2011. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 14-17 ноября 2011 г., МоскваЧ. 4.: М.: МГТУ МИРЭА – ИРЭ РАН, 2011. С. 170–172.
В работе рассмотрены принципы построения устройств перемещения для сканирующей зондовой микроскопии, предложено устройство перемещения для нанотехнологии, позволяющее обеспечить взаимную независимость перемещений зонда по координатным осям. ...
Added: February 8, 2013
Ефимов И. А., Ivashov E., Корпачев М. Ю. et al., В кн.: INTERMATIC - 2009. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 7 - 11 декабря 2009 г., МоскваЧ. 1.: М.: Энергоатомиздат, 2009. С. 237–239.
В настоящей работе рассмотрено одно из решений обеспечения термостабилизации пьезопривода и зонда в системе устройства СЗМ. Предложенный метод позволяет обеспечить теплоотвод от пьезопривода и зонда и, в конечном итоге, реализует их термостабильность. ...
Added: February 8, 2013
Балан Н. Н., Ivashov E., Лучников П. А. et al., Наноматериалы и наноструктуры 2012 № 2 С. 35–43
Рассмотрены конструкции и особенности технологии изготовления перспективных острийных катодов туннельных и автоэмиссионных микроприборов, выполняемых по кремниевой технологии, а также эмиттеров на основе наноструктурированных углеродных материалов. Приведены основные характеристики и технологические режимы формирования электродных покрытий с использованием силицида платины в качестве основного электродного слоя эмиттера. ...
Added: February 5, 2013
Kartsev E., Yurin A., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
Приведены основные понятия и определения нанометрологии, сведения об истории развития исследований в нанометровом диапазоне. Рассмотрена классификация нанообъектов, их свойства и параметры. Изложены принципы элементного и структурного анализа нанообъектов и вопросы метрологического обеспечения нанотехнологий. Особое внимание уделено методам и средствам исследования поверхностей и нанопокрытий. Достаточно подробно рассмотрены конструкция и метрологические характеристики сканирующих туннельных, электронных и атомно-силовых ...
Added: September 28, 2012