?
Cтохастические методы анализа комплексных программно-аппаратных систем
Труды Института системного программирования РАН. 2017. Т. 29. № 4. С. 191–202.
Zelenov S. V., Карнов А. А.
Zelenov S. V., Зеленова С. А., Труды Института системного программирования РАН 2017 Т. 29 № 5 С. 257–282
В данной статье демонстрируется целесообразность применения языка моделирования программно-аппаратных систем AADL и его расширения Error Model Annex для описания требований безопасности проектируемой системы. Наиболее важным аспектом здесь является возможность описания требований безопасности в терминах, используемых в теории безопасности, таких, как марковские цепи или логико-вероятностные функции, т.к. за годы развития теории было накоплено большое количество весьма ...
Added: February 12, 2018
Kascheev N. I., Mindrov A., Путихин Н. С. et al., Труды НГТУ им. Р.Е. Алексеева 2015 № 4 С. 9–18
Purpose: Create a novel algorithm for gate-level test pattern generation for combinational circuits. Design/methodology/approach: Test generation method for combinational circuits by means of continuous optimization is proposed. The classical ATPG methods target the problem at the logical level and use a discrete approach for simulation of the circuit behavior. This paper presents a new approach ...
Added: February 3, 2017
Kascheev N. I., Сивов С. А., Проектирование и технология электронных средств 2012 № 1 С. 16–19
Представлен подход, позволяющий решить задачу поиска тестовых наборов для неисправностей открытого типа с помощью непрерывной оптимизации целевой функции. В работе предложена модель замещения неисправных вентилей функциональным аналогом неисправности при генерации тестов. ...
Added: July 31, 2013
Kascheev N. I., Подъяблонский Ф. М., Вестник Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского. Серия: Математическое моделирование и оптимальное управление 2011 № 3(2) С. 78–82
An approach to construction of digital circuit tests on the basis of continuous models of discrete devices is developed. The method is used to solve the problem of finding test sets for bridging faults of sequential circuits. A generalized fault model representation specified with a resistive model of a bridging fault is used together with ...
Added: July 31, 2013
Kascheev N. I., Ponomarev D. M., Подъяблонский Ф. М., Вестник Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского 2011 № 3-2 С. 72–77
This paper considers the development of digital circuit tests using continuous models of discrete devices. An algorithm is presented which makes it possible to solve the problem of finding test sets using continuous optimization. A generalized fault model is proposed which implements a unified approach to the representation of different types of faults in test ...
Added: November 22, 2012