?
Методика отбраковочных испытаний интегральных схем
С. 130–134.
Uvaysov S. U.
Language:
Russian
Keywords: Интегральная схема
In book
Пенза: [б.и.], 1995.
Романова Д. С., Непомнящий О. В., А. И. Легалов et al., Программная инженерия 2022 Т. 13 № 6 С. 259–271
The problems and solutions in the field of ensuring architectural independence and implementation of digital integrated circuits end-to-end design processes are considered. The paper focuses on the need to find a solution to the problem of program portability during the development of integrated circuits. A review of the main software and tools used to design ...
Added: September 13, 2022
Альбатша А. М., В кн.: Информационные технологии в науке, бизнесе и образовании: сборник трудов X Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых.: М.: Московский государственный лингвистический университет, 2018. С. 11–15.
The aim of this study is to give a brief overview of contemporary approaches (i.e., design/hardware obfuscation techniques) to protecting design (hardware) from various security threats - reverse engineering, IP piracy, tampering. The paper explains the notion ‘design obfuscation' and describes several existing technical solutions for design obfuscation as based on the analysis of academic ...
Added: December 6, 2019
Альбатша А. М., В кн.: Передовые инновационные разработки. Перспективы и опыт использования, проблемы внедрения в производство: сборник научных статей по итогам четвертой международной научной конференцииЧ. 2.: Каз.: [б.и.], 2019. С. 90–92.
The paper presents a brief overview of contemporary approaches to protecting hardware, i.e. design obfuscation techniques, which are meant to counter threats to design IP security ...
Added: December 6, 2019
Albatsha Ahmad, , in: Proceedings of the 53rd Annual Conference on Statistics, Computer Sciences and Operation Research.: Cairo University, 2018. P. 42–47.
The aim of this study is to give a brief overview of contemporary approaches (i.e., design/hardware obfuscation techniques) to protecting design (hardware) from various security threats – reverse engineering, IP piracy, tampering. The paper describes several existing and acknowledged technical solutions for design obfuscation as based on the analysis of patents published in the recent ...
Added: December 6, 2019
М.: Техносфера, 2016.
В сборник включены тезисы докладов конференции, освещающие актуалные вопросы разаработки, производства и применения отечественных интегральных схем и высокоинтегрированных микроэлектронных модулей. ...
Added: October 10, 2016
Малинова О. Е., Zhadnov V. V., В кн.: Современные проблемы радиоэлектроники : сб. науч. тр. [Электронный ресурс].: Красноярск: Сибирский федеральный университет, 2016. С. 454–458.
Интегральные схемы, применяемые в составе аппаратуры автоматизированных систем, в значительной степени подвержены разрушающему воздействию электростатических разрядов, порождающих электрические перегрузки. Поэтому при оценке надежности аппаратуры этого класса необходимо особое внимание уделять характеристикам безотказности интегральных схем. Данная статья посвящена рассмотрению математических моделей вероятности безотказной работы интегральных схем при воздействии электростатических разрядов. ...
Added: April 26, 2016
М.: Техносфера, 2015.
В сборник включены тезисы докладов конференции, освещающие актуалные вопросы разаработки, производства и применения отечественных интегральных схем и высокоинтегрированных микроэлектронных модулей. ...
Added: February 16, 2016
Zhadnov V. V., Технологии электромагнитной совместимости 2015 № 4 С. 29–34
Indicators of maintainability of modern electronic devices greatly depend on the characteristics of reliability of electronic components. The impact of catastrophic electrical overstress due to electrostatic discharge can lead to failures of integrated circuits, which are widely used in electronic tools. The article considers the issues of assessing the impact of electrostatic discharges on the ...
Added: October 26, 2015
Abrameshin A. E., Zhadnov V. V., В кн.: Инновации на основе информационных и коммуникационных технологий: Материалы международной научно-практической конференции (2015).: М.: НИУ ВШЭ, 2015. С. 377–379.
One of the possible causes of failures of integrated circuits bots space equipment is exposure to electrostatic discharges. The article describes a method of forming a mathematical model of the failure rate of integrated circuits and its application to integrated circuits equipment spacecraft operated in geostationary orbits. ...
Added: October 19, 2015
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн.: Инновации на основе информационных и коммуникационных технологий: Материалы международной научно-практической конференции, 2014.: М.: НИУ ВШЭ, 2014. С. 475–478.
Описывается блок-схема и части инновационной подсистемы для проектирования интегральных схем с учетом факторов температуры и радиации. Рассмотрены программное обеспечение и математические модели, используемые для проектирования стойких интегральных схем в русле импортозамещения электронной компонентной базы для жестких условий эксплуатации. ...
Added: October 17, 2014
Abrameshin A. E., Zhadnov V. V., Технологии электромагнитной совместимости 2014 № 2 С. 27–34
Indicators of non-failure operation of the onboard space equipment substantially depend on characteristics of reliability microcircuits. One of possible causes of failures microcircuits is influence of catastrophic electrical overstress owing to electrostatic discharges. In article the method of formation of mathematical model of failure rate microcircuits and possibility of its application for microcircuits for the ...
Added: June 10, 2014
Zhadnov V. V., Polesskiy S., Якубов С. Э., Электронные компоненты 2007 № 3 С. 39–48
Основой современной аппаратуры военной и аэрокосмической техники являются перспективные электронные компоненты, в т.ч. сверхбольшие и сверхбыстродействующие микросхемы последних поколений. Одним из критериев применения таких микросхем является их уровень надежности, т.к. он в значительной степени определяет и надежность аппаратуры в целом. На ранних этапах проектирования оценка надежности проводится, как правило, расчетными методами, основанными на математических моделях ...
Added: January 12, 2014
Zhadnov V. V., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы шестнадцатого научно-технического семинара.: М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2013. С. 132–137.
Рассмотрены методы расчета и прогнозирования характеристик надежности интегральных микросхем, рекомендованных в российских и зарубежных стандартах. Приведены результаты сравнительного анализа этих методов и показано, что для повышения точности расчетов необходимо использование данных по надежности, публикуемых фирмами-производителями. ...
Added: April 5, 2013