• A
  • A
  • A
  • ABC
  • ABC
  • ABC
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Regular version of the site

Book chapter

Исследование моделей интенсивности отказов полупроводниковых приборов

С. 182-185.
Артюхова М. А., Полесский С. Н.

The investigation of the failure rate models for the diode D231 on standarts. Concluded the reasons for discrepancies in the results of calculation of the failure rate, depending on the model chosen.