Глава
The Implementation of the Cross-Cutting Design Technique of Electronic Communication Modules Using National Instruments Technologies
В книге
Рассмотрена модель интенсивности отказов КМОП СБИС, предложенная в статье Пискуна Г.А., Алексеева В.Ф. «Совершенствование математической модели расчёта надёжности КМОП СБИС с учётом особенностей воздействия электростатического разряда», опубликованной в первом номере журнала «Технологии электромагнитной совместимости» за 2016 год. Показано, что утверждение авторов о том, что эта модель «…позволит более точно осуществлять оценку надёжности КМОП СБИС» в корне не верно и её применение неизбежно приведёт к неадекватным результатам. В качестве альтернативы предложена модель интенсивности отказов КМОП СБИС, также позволяющая учитывать вид ЭСР, но основанная на использовании характеристик стойкости КМОП СБИС к воздействию ЭСР.
Рассмотрены математические модели интенсивностей отказов элементов, применяемых в расчетах надежности бортовой электронной аппаратуры. Показана возможность применения моделей, приведенных в зарубежных стандартах, для прогнозирования надежности комплектующих элементов.
В статье рассматривается вопросы оценки надежности механических элементов, применяемых в электронных средствах на ранних этапах проектирования. Приведены расчеты интенсивностей отказов пружин виброизоляторов по различным методикам. Показано, что применение моделей интенсивностей отказов механических элементов, учитывающих особенности их конструктивно-технологического исполнения, позволяет решать не только задачи расчета, но и обеспечения требуемого уровня надежности и механических элементов, и содержащих их электронных средств.
Основная цель IEEE Симпозиума по проектированию и тестированию Восток-Запад в 2013 году - обмен опытом между учеными и технологиями Восточной и Западной Европы, а также Северной Америки и других частей мира в области проектирования, автоматизации проектирования и тестирования электронных схем и устройств. Симпозиум охватывает следующие темы:
• тестирование аналоговых, смешанных и радиочастотных систем,
• анализ и оптимизация,
• средства автоматизированного проектирования и тестирования,
• анализ неисправностей,
• вопросы потребляемой мощности,
• надежность в цифровых системах,
• тепловой, временной анализ систем на кристалле и на платах.
The monograph presents results by professor Dr. A. Shalumov’s Research School of Modeling, Information Technology and Automated Systems (Russia). The program, ASONIKA, developed by the school is reviewed here regarding reliability and quality of devices for simulation of electronics and chips during harmonic and random vibration, single and multiple impacts, linear acceleration and acoustic noise, and steady-state and transient thermal effects. Calculations are done for thermal stress during changes in temperature and power in time. Calculations are done for number of cycles to fatigue failure under mechanical loads as well as under cyclic thermal effects. Simulation results for reliability analysis are taken into account. Models, software interface, and simulation examples are presented.
For engineers and scientists involved in design automation of electronics.
These are the proceedings of the International Workshop on Petri Nets and Software Engineering (PNSE’13) and the International Workshop on Modeling and Business Environments (ModBE’13) in Milano, Italy, June 24–25, 2013. These are co-located events of Petri Nets 2013, the 34th international conference on Applications and Theory of Petri Nets and Concurrency.
PNSE'13 presents the use of Petri Nets (P/T-Nets, Coloured Petri Nets and extensions) in the formal process of software engineering, covering modelling, validation, and verification, as well as their application and tools supporting the disciplines mentioned above.
ModBE’13 provides a forum for researchers from interested communities to investigate, experience, compare, contrast and discuss solutions for modeling in business environments with Petri nets and other modeling techniques.