Сравнительный анализ методик расчета надежности класса зубчатые передачи

Лушпа Игорь Леонидович

Глава

Сравнительный анализ методик расчета надежности класса зубчатые передачи

С. 784-787.

Проводится сравнение двух методик расчета интенсивности отказов класса зубчатые соединения, приведенных в РМ 25 446-87 и NSWC-2011/LE10. Рассмотрены математические модели интенсивности отказов и их применение.

Язык: русский

Полный текст (PDF, 541 Кб)

Ключевые слова: интенсивность отказов зубчатые соединения

Публикация подготовлена по результатам проекта: Разработка методов прогнозирования надежности электронных средств(2014)

В книге

Сравнительный анализ методик расчета надежности класса зубчатые передачи

Сборник трудов VIII международной научно-практической конференции "Информационные и коммуникационные технологии в образовании, науке и производстве"

Протвино: Управление образования и науки г. Протвино, 2014.

О «совершенствовании» математической модели расчета надёжности КМОП СБИС с учетом ЭСР

Жаднов В. В. Технологии электромагнитной совместимости. 2016. № 4. С. 49-52.

Рассмотрена модель интенсивности отказов КМОП СБИС, предложенная в статье Пискуна Г.А., Алексеева В.Ф. «Совершенствование математической модели расчёта надёжности КМОП СБИС с учётом особенностей воздействия электростатического разряда», опубликованной в первом номере журнала «Технологии электромагнитной совместимости» за 2016 год. Показано, что утверждение авторов о том, что эта модель «…позволит более точно осуществлять оценку надёжности КМОП СБИС» в корне не верно и её применение неизбежно приведёт к неадекватным результатам. В качестве альтернативы предложена модель интенсивности отказов КМОП СБИС, также позволяющая учитывать вид ЭСР, но основанная на использовании характеристик стойкости КМОП СБИС к воздействию ЭСР.

Добавлено: 29 октября 2016

Анализ моделей прогнозирования и расчета надежности комплектующих элементов бортовой электронной аппаратуры

Жаднов В. В. В кн.: Надежность и качество-2013: труды Международного симпозиума: в 2-х т.. Т. 1. Пенза: Издательство ПГУ, 2013. С. 28-31.

Рассмотрены математические модели интенсивностей отказов элементов, применяемых в расчетах надежности бортовой электронной аппаратуры. Показана возможность применения моделей, приведенных в зарубежных стандартах, для прогнозирования надежности комплектующих элементов.

Добавлено: 1 июня 2013

Расчет коэффициента эксплуатации

Гаршин А. А., Жаднов В. В., Полесский С. Н. В кн.: Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: Официальный бюллетень Федеральной службы по интеллектуальной собственности, патентам и товарным знакам. М.: ФГУ ФИПС, 2010.

Приведены основные характеристики программы расчета коэффициента эксплуатации.

Добавлено: 13 апреля 2014

Прогнозирование показателей безотказности механических элементов электронных средств при проектировании

Жаднов В. В., Лушпа И. Л. Информационные технологии в проектировании и производстве. 2014. № 4. С. 17-23.

В статье рассматривается вопросы оценки надежности механических элементов, применяемых в электронных средствах на ранних этапах проектирования. Приведены расчеты интенсивностей отказов пружин виброизоляторов по различным методикам. Показано, что применение моделей интенсивностей отказов механических элементов, учитывающих особенности их конструктивно-технологического исполнения, позволяет решать не только задачи расчета, но и обеспечения требуемого уровня надежности и механических элементов, и содержащих их электронных средств.

Добавлено: 13 ноября 2014

Прогнозирование безотказности микросхем для военной и аэрокосмической электроники

Жаднов В. В., Полесский С. Н., Якубов С. Э. Электронные компоненты. 2007. № 3. С. 39-48.

Основой современной аппаратуры военной и аэрокосмической техники являются перспективные электронные компоненты, в т.ч. сверхбольшие и сверхбыстродействующие микросхемы последних поколений. Одним из критериев применения таких микросхем является их уровень надежности, т.к. он в значительной степени определяет и надежность аппаратуры в целом. На ранних этапах проектирования оценка надежности проводится, как правило, расчетными методами, основанными на математических моделях эксплуатационной интенсивности отказов. В статье рассматриваются отечественные и зарубежные методики расчета и прогнозирования безотказности микросхем и приводятся примеры их применения.

Добавлено: 12 января 2014

Исследование метода моделирования отказов КМОП СБИС бортовой космической аппаратуры из-за воздействия ЭСР

Жаднов В. В. В кн.: Информационные и коммуникационные технологии в образовании, науке и производстве: Сборник трудов VII международной научно-практической конференции. Протвино: Управление образования и науки г. Протвино, 2013. С. 751-754.

Рассмотрены основные этапы формирования модели интенсивности отказов КМОП СБИС из-за воздействия ЭСР. Показано, что для бортовой космической аппаратуры вероятность воздействия ЭСР может быть определена на основе характеристик окружающей радиационной обстановки.

Добавлено: 30 июля 2013