• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Найдено 5 публикаций
Сортировка:
по названию
по году
Статья
Горячкин Ю. В., Падеров В. П., Силкин Д. С. Проектирование и технология электронных средств. 2016. № 3. С. 28-31.

Проведено моделирование пробоя тиристорной структуры с прямой и обратной фаской в прямом блокирующем направлении. Исследована зависимость напряжения пробоя тиристора от глубины травления в области фаски. Приведены графики этих зависимостей, из которых можно определить оптимальную глубину травления.

Добавлено: 7 октября 2020
Статья
Городилов А. Ю., Тюрин С. Ф., Данилова Е. Ю. Проектирование и технология электронных средств. 2014. № 2. С. 50-54.

«Обратное» диагностирование логического элемента LUT FPGA

Добавлено: 17 января 2017
Статья
Аминев Д. А., Журков А. П., Кулыгин В. Н. и др. Проектирование и технология электронных средств. 2016. № 3. С. 43-49.

Приводится структура распределенной наземной локальной радиотехнической системы наблюдения (РСН), состоящей из местного диспетчерского пункта (МДП), 12-ти удаленно расположенных необслуживаемых радиотехнических терминалов (НРТ) и каналов связи между МДП и НРТ. Рассмотрены теоретические основы определения надёжности и оптимизации комплектования ЗИП. Исследована проблема определения показателей надёжности РСН. Составлена структурная схема надёжности и проведён расчет показателей по данным эксплуатационных интенсивностей отказов составных элементов. Проведена оптимизация состава ЗИП для составных частей аппаратуры. Предложены варианты комплектования с учетом различных критериев.

Добавлено: 15 апреля 2017
Статья
Кащеев Н. И., Сивов С. А., Данилов С. О. Проектирование и технология электронных средств. 2010. № 4. С. 50-54.

Представлены и апробированы несколько вариантов непрерывных продолжений булевых функций для построения тестовых наборов с помощью непрерывной оптимизации. Приведены результаты работы разработанного программного комплекса для ряда схем набора ISCAS.

Добавлено: 15 марта 2013
Статья
Кащеев Н. И., Сивов С. А. Проектирование и технология электронных средств. 2012. № 1. С. 16-19.

Представлен подход, позволяющий решить задачу поиска тестовых наборов для неисправностей открытого типа с помощью непрерывной оптимизации целевой функции. В работе предложена модель замещения неисправных вентилей функциональным аналогом неисправности при генерации тестов.

Добавлено: 31 июля 2013