?
Реализация инженерной методики прогнозирования долговечности интегральных микросхем иностранного производства в виде автоматизированной системы для авиационного оборудования
С. 1–6.
Publication based on the results of:
In book
Издательский дом ВВИА им. проф. Н.Е.Жуковского, 2016.
Stukach O., Ершов И. А., Динамика систем, механизмов и машин 2016 Т. 2 № 1 С. 178–181
В статье обсуждается проблема моделирования процессов в электронной промышленности как целостной системы. Дается простая методика применения кластерного анализа процессов в полупроводниковом производстве. Приводятся результаты математического моделирования реальных данных с предприятия полупроводниковой индустрии Томска. В качестве независимой переменной выступает процент выхода годных изделий, остальные переменные представляют собой технологические параметры и результаты промежуточного контроля на всем протяжении ...
Added: January 8, 2019
Zhadnov V. V., Мир измерений 2016 № 4 С. 8–11
В статье рассматриваются вопросы оценки надёжности электронных измерительных приборов при проектировании. Приводится описание моделей интенсивностей отказов КМОП ИС, учитывающих влияние ЭСР, и показано, что для электронных измерительных приборов, содержащих относительно небольшое количество таких микросхем, применение стандартизованной модели интенсивностей отказов, учитывающей влияние ЭСР, может привести к существенным погрешностям в расчётах надёжности. В качестве альтернативы предложена модель, ...
Added: October 13, 2016
Korolev P., Polesskiy S., В кн.: XLII Международная молодёжная научная конференция "Гагаринские чтения – 2016". Сборник тезисов докладовТ. 1.: [б.и.], 2016. С. 307–308.
At present, aviation equipment is equipped with a modern electronic component base (ECB). Virtually every electronic control system built into this equipment can not do without integrated circuits (ICs). In most cases, Russian companies use IMI of foreign manufacture to design such systems (China, USA, Japan, etc.). ...
Added: June 2, 2016
Zhadnov V. V., Korolev P., Polesskiy S., В кн.: X международная отраслевая научно-техническая конференция «Технологии информационного общества»: Сборник трудов.: М.: ИД Медиа Паблишер, 2016. С. 180–181.
Рассмотрены особенности прогнозирования показателей долговечности современных ИС ИП по справочным данным. ...
Added: March 31, 2016
Zhadnov V. V., Artyukhova M. A., Надежность 2015 No. 1 P. 19–24
The article deals with forecasting the dependability indicators of state-of-the-art spacecraft onboard equipment. The authors demonstrate the applicability of the results of equipment and components testing for resistance to ionizing radiation in forecasting dependability indicators. They prove the applicability of Alfa distribution of time to failure in forecasting CMOS IC reliability and longevity. The paper ...
Added: January 20, 2015
Zhadnov V. V., Artyukhova M. A., Надежность 2015 № 1 С. 13–18
The article deals with forecasting the dependability indicators of state-of-the-art spacecraft onboard equipment. The authors demonstrate the applicability of the results of equipment and components testing for resistance to ionizing radiation in forecasting dependability indicators. They prove the applicability of Alfa distribution of time to failure in forecasting CMOS IC reliability and longevity. The paper ...
Added: January 20, 2015
Zhadnov V. V., Artyukhova M. A., В кн.: Труды Международного симпозиума "НАДЕЖНОСТЬ и КАЧЕСТВО" : в 2 т.Т. 2.: Пенза: ПГУ, 2014. С. 260–264.
The report considers the issues of forecasting the reliability parameters of modern on-board equipment of spacecrafts. The expediency of using the results of tests of equipment and it’s components for resistance to the effects of ionizing radiation to predict the reliability parameters. Substantiated the possibility of alpha-time distribution for the MTBF prediction of reliability and ...
Added: June 3, 2014
Zhadnov V. V., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы семнадцатого научно-практического семинара.: М.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2014. С. 15–21.
В докладе рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современных интегральных схем иностранного производства, применяемых в радиоэлектронных средствах космических аппаратов. Показана возможность применения вероятностно-физических моделей отказов для оценки показателей надежности радиоэлектронных средств космических аппаратов. Приведены методы оценки показателей безотказности и долговечности современных интегральных микросхем. ...
Added: April 12, 2014
Uvaysov S. U., Сегень А. В., Пятницкая Г. А., В кн.: Материалы Международной конференции и Российской научной школы «Системные проблемы надежности, математического моделирования и информационных технологий».: Сочи: [б.и.], 1998. С. 71–73.
Added: February 8, 2014
Abrameshin A. E., Polesskiy S., Технологии электромагнитной совместимости 2012 № 4 (43) С. 51–57
Обеспечение высокой надежности цифровых электронных модулей требует использования специальной электронно-компонентной базы и методов проектирования, учитывающих конечные условия их эксплуатации. Статья посвящена всестороннему рассмотрению потенциальных проблем, возникающих в процессе проектирования, и методов их решения. Решения вопросов по обеспечению требуемого уровня надежности цифровых электронных модулей может занимать от одного до шести месяцев, что приводит к срыву сдачи ...
Added: February 23, 2013