Расчет отбраковочных допусков на внутренние электрические параметры радиоэлектронных функциональных узлов

С. У. Увайсов; А. В. Долматов; Милованов И. А.; Лобурец Д. А.

Publications

?

Расчет отбраковочных допусков на внутренние электрические параметры радиоэлектронных функциональных узлов

С. 48–50.

Uvaysov S. U., Долматов А. В., Милованов И. А., Лобурец Д. А.

Language: Russian

Keywords: РЭУ Расчет отбраковочных допусков электрические параметры

In book

Материалы Международной конференции и Российской научной школы «Системные проблемы надежности, математического моделирования и информационных технологий»

Сочи: [б.и.], 1998.

Моделирование воздействия тепловой обратной связи на тепловые процессы в электронных системах

Madera A. G., Компьютерные исследования и моделирование 2018 Т. 10 № 4 С. 483–494

The article is devoted to the effect of thermal feedback, which occurs during the operation of integrated circuits and electronic systems with their use. Thermal feedback is due to the fact that the power consumed by the functioning of the microchip heats it and, due to the significant dependence of its electrical parameters on temperature, ...

Added: November 6, 2019

Оценка времени выхода на стационарный тепловой режим ИВЭПв ПК SolidWorks для уточненного измерения электрических параметров

Korolev P., В кн.: IV Международная молодежная научная конференция Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2017.: УрФУ, 2017. С. 88–89.

The paper gives recommendations on the precise estimation of the time for reaching the stationary thermal mode of the SPS for the refined measurement of electrical parameters. ...

Added: August 30, 2017

Взаимодействие программных комплексов NI Multisim и NI Labview как возможность расчета параметров надежности схем электрических принципиальных электронных средств

Korolev P., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах. Материалы двадцатого научно-практического семинара.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2017. С. 198–201.

В настоящей работе проведен обзор существующих отечественных и зарубежных автоматизированных программных комплексов расчета показателей надежности схем электрических принципиальных электронных средств. Выявлены их недостатки, связанные с отсутствием возможности взаимодействия с программными комплексами схемотехнического моделирования. В связи с этим, даются рекомендации применения программных комплексов NI Multisim и NI Labview для расчета показателей надежности схем электрических принципиальных электронных ...

Added: May 3, 2017

Программно-методический комплекс обнаружения скрытых дефектов радиоэлектронных функциональных узлов

Uvaysov S. U., Долматов А. В., Касьян К. Н. et al., В кн.: Материалы Международной конференции и Российской научной школы «Системные проблемы надежности, математического моделирования и информационных технологий».: Сочи: [б.и.], 1998. С. 44–46.

Added: February 8, 2014