• A
  • A
  • A
  • ABC
  • ABC
  • ABC
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Regular version of the site
Of all publications in the section: 35
Sort:
by name
by year
Article
Колокольцев В. Н., Куликаускас В. С., Бондаренко Г. Г. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2016.

The method of Rutherford back scattering of He + ions with 2 MeV studied the distribution profiles of the elements C, Cu and W in the films deposited on the discharge installation type "plasma focus". The films are deposited on glass substrates in Ar plasma-forming gas. It is found that the element distribution profiles vary significantly from the kinetic energy of the particles. Particles having a velocity about 105 m / s, penetrates to a depth of about 1.5 microns. Appropriate distribution profiles elements for glass thickness are nonlinear. For each element, there is a maximum depth of the layer under the surface of the glass. A feature of the films obtained on the setting of "plasma-focus" is the formation of layers of the elements Cu, W and C at the glass surface and their mutual overlap. This arrangement of layers distinguishes described film deposition method of the commonly used methods of application at low speeds the deposition of atoms, as well as by diffusion. It is found that the obtained film are insulators.

Added: May 18, 2016
Article
Новоселова Е. Г., Смирнов И. С., Черных И. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2011. № 10. С. 1-4.
Added: Mar 6, 2012
Article
Черных И. А., Мамичев Д. А., Грищенко Ю. В. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2011. Т. 56. № 10. С. 29-32.
Added: Apr 12, 2012
Article
Боровицкая И. В., Коршунов С. Н., Мансурова А. Н. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2020. № 5. С. 56-62.
Added: Mar 27, 2020
Article
Боровицкая И. В., Коршунов С. Н., Мансурова А. Н. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2021. № 4. С. 25-30.
Added: Mar 30, 2021
Article
Бондаренко Г.Г., Кристя В. И., Прасицкий В. В. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1998. № 11. С. 111-115.
Added: Jan 27, 2014
Article
Суворов Э. В. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2018. № 9. С. 3-22.

X-ray topography is a complex of X-ray diffraction methods allowing one to detect the images of defects, to

determine their type, the arrangement in a crystal structure volume or on its surface, to measure their basic

characteristics. The possibilities, limitations and prospects of X-ray topography methods are discussed in the

given work.

Added: Nov 21, 2019
Article
Черник В. Н., Акишин А. И., Пасхалов А. А. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010. № 4. С. 59-63.
Added: Oct 14, 2012
Article
Бондаренко Г. Г., Гайдар А. И., Петров В. С. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2015. № 7. С. 29-33.
Added: Sep 10, 2015
Article
Бондаренко Г.Г., Касьянов О. М. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1995. № 4. С. 117-119.
Added: Dec 9, 2013
Article
Свинарев Ф. Б., Балашова Е., Кричевцов Б. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2018. № 3. С. 52-58.

Single crystals and films of 2-methylbenzimidazole were obtained by evaporation from an alcohol solution. Films are a texture with a predominant orientation of the pseudo-tetragonal axis in the film plane. The blocks are split spherulite-type crystals in which the pseudotetragonal axis rotates around the center of the block. Dielectric hysteresis loops in the temperature range 290-350 K were studied in crystals and films. In films, loops are observed in an electric field directed both parallel and perpendicular to the film plane. The maximum value of polarization in films is close to that observed in single crystals (P s ~5 µcl / cm2). The difference in the temperature behavior of hysteresis loops in crystals and films is associated with the specific structure of the blocks.

Added: Nov 10, 2020
Article
Вербус В. А., Козлов В. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2012. № 9. С. 22-26.
Added: Feb 24, 2015
Article
Бондаренко Г.Г., Шишков А. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1995. № 9. С. 35-38.
Added: Jan 27, 2014
Article
Аитов Р. Д., Бондаренко Г.Г., Кристя В. И. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1997. № 1. С. 11-14.
Added: Dec 4, 2013
1 2