• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Книга

Сканирующая туннельная литография нанометровых структур в зондовом микроскопе СММ-2000

Львов Б. Г., Бондаренко Г. Г., Николаевский А. В.

Содержанием учебно-методического пособия является практическое исследование процесса электрополевого воздействия туннельного зазора на поверхность наноструктурированного образца методом сканирующей туннельной микроскопии.

Сканирующая туннельная литография нанометровых структур в зондовом микроскопе СММ-2000